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裏面反射の影響を除去する新方式を採用
厚さ0.1mm以上の平行平面ガラスの測定が可能
スイッチの切換えにより通常のレーザー干渉計としても使用可能
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製品名：G102S
測定対象：平面・透過波面
口径（mm）：φ102／φ150
用途：高精度平面板（ガラス、金属、セラミックなど）の平面度測定、プリズム・平行平面板 |
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裏面反射の影響を除去する新方式を採用
厚さ0.1mm以上の平行平面ガラスの測定が可能
スイッチの切換えにより通常のレーザー干渉計としても使用可能
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製品名：G102S
測定対象：平面・透過波面
口径（mm）：φ102／φ150
用途：高精度平面板（ガラス、金属、セラミックなど）の平面度測定、プリズム・平行平面板 |
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