レーザー干渉計(計測機)
ラインアップ
FUJIFILM干渉計は、サンプルの材質によらず、研磨面(鏡面)であればほとんど非接触観測が可能です。
また、干渉縞を自動的に解析し数値化する縞解析装置も揃っており、使いやすさを追求した高機能・高性能計測システムとなっております。
高精度平面板(ガラス、金属、セラミックなど)の平面度測定、光学レンズ、鋼球、プラレンズの面精度測定など、さまざまな用途に対応する干渉計をご用意しておりますので、高精度測定にぜひお使いください。
平面測定システム
富士フイルム平面測定システムは、ガラス・金属・セラミックなどの高精度な平面板をはじめ、さまざまな平面形状のものをナノメータオーダーで測定できる光学業界のデファクトスタンダードです。
また、非接触による測定で被検体にキズを付けることなく、簡単に合否判定ができます。
干渉縞 | |
---|---|
ガラス系
|
|
金属系
|
|
その他
|
製品名 | 測定対象 | 有効光束径(mm) | 基準面精度 | 拡大倍率 |
---|---|---|---|---|
平面・透過波面 | φ60 |
λ/20 |
×1 |
|
平面・透過波面 | φ102 |
λ/20 |
×1~×8.6 |
|
平面・透過波面 | φ102 |
P-V値 |
×1~×6 |
球面測定システム
富士フイルム球面測定システムは、レンズ・鋼球・型などの高精度な球面をはじめ、さまざまな球面形状のものをナノメータオーダーで測定できる光学業界のデファクトスタンダードです。
また、非接触による測定で被検体にキズを付けることなく、簡単に合否判定ができます。
干渉縞 | |
---|---|
ガラス系
|
|
金属系
|
|
その他
|
製品名 | 測定対象 | 有効光束径(mm) | 基準面精度 | 拡大倍率 |
---|---|---|---|---|
球面・透過波面 | φ60 |
λ/20 |
×1 |
|
球面 | φ60m |
λ/20 |
×1 |
縞解析装置
干渉計で得られた干渉縞を解析し、表面形状や透過波面形状を数値化、ビジュアル化することで、測定結果を詳細分析することができるため、開発や品質管理の向上に貢献します。
製品名 | 表示項目 | 解析画素数 | その他の機能 |
---|---|---|---|
P-V値 RMS値 鳥瞰図 等高線図 断面図 ヒストグラム ザイデル収差 ゼルニケ多項式係数 |
256×256 |
データ保存 合否判定 Code V出力 データサブトラクション |
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